
CXSD61100 6A DDR终端电源同步降压转换器 | 1/2 VDDQ | 灌/拉电流 - 嘉泰姆电子
| 产品型号: | CXSD61100 |
| 产品类型: | DC-DC转换器 |
| 产品系列: | 开关稳压器降压 (Buck) 转换器 |
| 产品状态: | 量产 |
| 浏览次数: | 5 次 |
产品简介
技术参数
| 输入电压范围 (VIN) | 1V~6V |
|---|---|
| 输出电压 (VOUT) | 0.6V~2V |
| 输出电流 (IOUT) | 6A |
| 工作频率 | 1000;600kHz |
| 转换效率 | 95% |
| 封装类型 | VQFN3.5x4-20 |
| Topology | 开关稳压器降压 (Buck) 转换器 |
| Control method | Ext Vref;Resistor |
| Switching frequency | 2700kHz~3000kHz |
| Protection | 过流/过压/过温 |
| Features | Adjustable Current Limit;Adjustable Frequency;COT Control;Cycle-by-Cycle Current Limit;Enable Input;Fast Transient Response;OCP;OTP;OVP;PSM;Power Good;Selectable (PSM or PWM);Stable with Ceramic Capacitor;UVP |
| Application | 开关稳压器 |
| Operating temp | -40℃~125℃ |
| Precision | ±1% |
| Ext Sync | No |
| Ron HS (typ) (mOhm) | 20 |
| Ron LS (typ) (mOhm) | 10 |
| Iq (typ) (mA) | 1.1 |
| Interface | I2C |
| Current Limit (typ) (A) | 5.4;7.6 |
| Number of Outputs | 1 |
产品详细介绍
CXSD61100 6A DDR终端电源同步降压转换器
1/2 VDDQ | 6A灌/拉电流 | 可调频率600kHz/1MHz
产品版本:Rev 1.0 | 更新日期:2026年8月 | 型号:CXSD61100 | 封装:VQFN-20L 3.5×4
技术咨询:ouamo18@jtm-ic.com 或致电 13823140578 (嘉泰姆电子)
嘉泰姆电子(JTM-IC)推出的 CXSD61100 是一款全功能6V、6A同步降压DC-DC转换器,专为 DDR内存终端(VTT)供电 应用而设计。该器件提供 6A连续灌/拉电流 能力,输出固定为 1/2 VDDQ,完美匹配DDR2/3/4内存系统的终端电源需求。芯片采用 电流模式恒定导通时间(COT) 架构,配合外部补偿,可在宽负载范围内优化瞬态响应,并实现几乎恒定的开关频率。
CXSD61100 集成了 20mΩ 高侧和 10mΩ 低侧功率MOSFET,效率最大化。器件支持 600kHz或1MHz 可选开关频率,提供多种过流限制阈值和轻载工作模式(PSM/PWM),方便设计优化。丰富的功能包括 外部跟踪启动、输出软放电、电源良好指示(PGOOD)、输出跌落(Droop)支持,以及完善的 欠压/过压保护、逐周期过流保护 和 过温保护。该器件工作温度范围为 0°C 至 105°C,参考电压精度高达 ±1%,采用 VQFN-20L 3.5×4mm 封装,是企业级服务器、以太网交换机、路由器、存储系统、GSM基站及工业设备的理想VTT电源解决方案。
1. 产品概述与市场定位
在服务器、通信设备及工业控制中,DDR内存终端电源(VTT)需要同时提供灌电流和拉电流能力,以满足数据总线终端电阻的偏置需求。CXSD61100 作为一款 专门为DDR内存终端设计 的同步降压转换器,其核心价值在于 高电流双向能力、精确的1/2 VDDQ电压跟随和快速的瞬态响应。输入电压范围(1V-6V)可兼容多种系统供电总线,输出电压可调(0.6V-2V),但典型应用固定为VDDQ的一半。
芯片采用 电流模式COT控制,无需复杂的斜率补偿,即可实现快速负载瞬态响应,并支持全陶瓷电容输出方案。通过MODE引脚,设计者可在 600kHz或1MHz 切换频率之间选择,同时配置不同的过流限制点(5.4A或7.6A)以及轻载工作模式(省电模式或强制PWM),以适应效率与性能的平衡。CXSD61100 还支持 外部参考电压跟踪,可跟随外部电压源启动,实现系统上电时序控制。PGOOD引脚提供开漏输出,指示输出电压是否在正常范围内。此外,芯片提供 输出跌落(Droop) 功能,通过调整COMP引脚电阻可设置负载线斜率,优化系统电压定位。CXSD61100 采用 VQFN-20L 3.5×4mm 封装,底部散热焊盘有效降低热阻,是高性能DDR终端电源的理想选择。
2. 主要特点与技术亮点
- 双向电流能力:支持连续6A灌电流和6A拉电流,适合DDR VTT总线终端电阻的对称负载。
- 精确输出电压:通过REFIN引脚设定,典型值为1/2 VDDQ(由外部电阻分压或外部基准提供),反馈电压精度±1%。
- 电流模式COT控制:无需外部补偿网络,内在的固定频率特性(通过自适应导通时间实现)简化设计并提供快速响应。
- 可编程模式:MODE引脚通过不同电阻接地,可选择轻载PSM(省电模式)或PWM(强制连续模式),同时配置开关频率和过流阈值(5.4A或7.6A)。
- 外部跟踪启动:REFIN引脚可接外部电压源,实现输出电压跟随外部基准启动,满足系统上电时序要求。
- 输出跌落实(Droop):通过COMP引脚外接电阻,可配置输出电压随负载电流线性下降,优化电压定位,减少输出电容。
- 电源良好指示:PGOOD开漏输出,在输出过压、欠压、过温、使能关闭或软启动期间拉低,便于系统监控。
- 全面保护:包括VCC欠压锁定(UVLO)、VREF欠压锁定、逐周期正/负过流限制、输出欠压保护(UVP,触发打嗝重启)、输出过压保护(OVP,强制低侧MOSFET导通并锁存)、过温保护(OTP)。
3. 典型应用电路
CXSD61100 的典型应用电路用于DDR内存终端电源,输入电压通常来自系统5V或3.3V总线,输出设定为VDDQ的一半(例如1.2V/1.35V/1.5V等)。电路包括输入电容、输出电容、功率电感、反馈分压电阻、补偿网络以及模式设置电阻。具体原理图如下所示,详细元件参数可参考数据手册推荐表。

图1. CXSD61100 典型应用电路(DDR VTT终端电源)
图2. CXSD61100 内部功能方框图
内部集成:高侧/低侧功率MOSFET、电流检测放大器、斜坡补偿、误差放大器、PWM比较器、恒定导通时间发生器、模式选择逻辑、软启动控制、跟踪控制、PGOOD比较器、过流/过压/欠压/过温保护逻辑等。
4. 极限参数与电气特性(设计参考)
| 符号 | 参数 | 最小值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| VIN, VCC, VBOOT-VSW | 输入电压、VCC、自举电压差 | -0.3 | 7 | V |
| VBOOT | 自举引脚电压 | -0.3 | 14 | V |
| SW | 开关节点(连续) | -2 | 7 | V |
| SW (<10ns) | 开关节点(瞬态) | -5 | 10 | V |
| EN, PGOOD | 使能、PGOOD引脚 | -0.3 | 7 | V |
| MODE, REFIN | 模式、参考输入 | -0.3 | 3.6 | V |
| VOUT, COMP, VREF | 输出监测、补偿、基准输出 | -0.3 | 3.6 | V |
| PD @ TA=25°C | 最大功耗(VQFN-20L 3.5x4) | — | 3.125 | W |
| θJA | 结到环境热阻 | — | 32 | °C/W |
| θJC | 结到外壳热阻 | — | 10 | °C/W |
| TJ | 结温范围 | -40 | 150 | °C |
| TSTG | 存储温度 | -65 | 150 | °C |
| ESD (HBM) | 人体模型 | — | 2 | kV |
| ESD (CDM) | 充电器件模型 | — | 1 | kV |
| 参数 | 最小值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| VIN 输入电压 | 1 | 6 | V |
| VOUT 输出电压范围 | 0.6 | 2 | V |
| VCC 供电电压(PSM模式) | 3.8 | 6 | V |
| VCC 供电电压(PWM模式) | 3 | 6 | V |
| 结温 TJ | -40 | 125 | °C |
| 参数 | 条件 | 典型值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| VCC 工作电压范围 | PWM模式 | 3-6 | V |
| VCC 静态电流 | EN=高 | 1.1 | mA |
| VCC 关断电流 | EN=低 | 0.27 | μA |
| VIN 关断电流 | EN=低 | 0.21 | μA |
| VCC UVLO 上升阈值 | — | 2.785 | V |
| VCC UVLO 迟滞 | — | 120 | mV |
| VREF 基准电压 | IVREF=0 | 1.0 | V |
| EN 高电平阈值 | 上升 | 2.0 | V |
| EN 低电平阈值 | 下降 | 0.5 | V |
| 开关频率(可选) | MODE 设定 | 600k 或 1M | Hz |
| 最小关断时间 | — | 270 | ns |
| 软启动时间 | EN到95% VOUT | 1.6 | ms |
| 误差放大器跨导 | — | 1.0 | mA/V |
| 低侧开关拉电流限流(谷值) | 模式选择 | 5.4/7.6 | A |
| 低侧开关灌电流限流 | — | -9.3 | A |
| PGOOD 欠压故障阈值 | VOUT下降 | 84% | VREFIN |
| PGOOD 过压故障阈值 | VOUT上升 | 116% | VREFIN |
| OVP 触发阈值 | VOUT上升 | 120% | VREFIN |
| UVP 触发阈值 | VOUT下降 | 68% | VREFIN |
| 过温保护阈值 | 关断 | 150 | °C |
5. 工作原理与设计指导
5.1 电流模式COT控制
CXSD61100 采用 电流模式恒定导通时间(COT) 控制架构。在每个周期,误差放大器将输出电压(VOUT)与参考电压(REFIN)比较,产生COMP电压。内部电流检测电路监测低侧MOSFET的谷值电流,当电感电流下降到COMP电平以下时,PWM比较器触发导通时间发生器,高侧MOSFET导通固定导通时间(由输入/输出电压和频率决定),然后关断,低侧MOSFET导通直到下一个周期。这种控制方式无需斜坡补偿,具有快速的瞬态响应和几乎恒定的开关频率。
5.2 频率选择与模式配置
通过MODE引脚外接不同电阻到GND,可选择 600kHz或1MHz 开关频率,同时配置轻载工作模式(PSM或PWM)以及过流限制值(5.4A或7.6A)。具体模式电阻值见表(参考数据手册)。PSM模式在轻载时通过跳周期提高效率,PWM模式在所有负载下保持连续导通,适合噪声敏感应用。VCC供电电压范围在PSM模式下需高于3.8V,PWM模式下高于3V。
5.3 输出电压设定与跟踪
输出由REFIN引脚电压设定,内部误差放大器将VOUT与REFIN比较。典型应用中,REFIN通过外部电阻分压从内部1V VREF获得,也可直接由外部电源驱动实现 跟踪功能。在跟踪模式下,输出电压跟随外部REFIN电压变化,实现上电时序控制。REFIN有效范围为0.6V至2V,对应VOUT 0.6V至2V。
5.4 软启动与放电
EN使能后,内部软启动电路在约1.6ms内将输出电压平滑升至设定值,限制启动浪涌电流。当EN拉低或保护触发时,输出通过内部42Ω电阻进行 软放电,避免输出残余电压。
5.5 输出跌落(Droop)功能
通过COMP引脚外接电阻(RDROOP)到VREF,可配置输出随负载电流线性下降的 电压定位。跌落电压与输出电流成正比,有助于降低对输出电容容量的要求,并改善瞬态响应。计算公式:VDROOP = (RCS × IOUT) / (RDROOP × gm),其中RCS为电流检测电阻(典型53mΩ),gm为误差放大器跨导(1mA/V)。
5.6 保护功能
- VCC欠压锁定(UVLO):VCC低于2.785V时关断,迟滞120mV。
- VREF欠压锁定:当VREF低于约0.88V时关断。
- 正过流保护(OCL):逐周期检测低侧MOSFET谷值电流,超过设定值(5.4A/7.6A)时关断高侧,限制输出电流。
- 负过流保护:当芯片灌电流时,若负电流超过-9.3A(典型),触发保护。
- 输出欠压保护(UVP):当VOUT低于68% REFIN且持续约256μs,芯片进入打嗝模式,尝试重启。
- 输出过压保护(OVP):当VOUT高于120% REFIN并持续10μs,强制低侧MOSFET导通,拉低输出电压,同时PGOOD锁存低电平,需VCC跌至复位阈值或EN重触发才能恢复。
- 过温保护(OTP):结温超过150°C时关断,冷却后自动重启。
6. 基于 CXSD61100 的 DDR4 VTT 电源设计(1.2V/6A)
设计目标:为DDR4内存系统提供VTT电源,VDDQ=2.4V,VTT=1.2V,最大负载电流±6A(灌/拉),输入电压5V,要求高效率、快速瞬态响应,并具备PGOOD指示。
- 系统配置:选用 CXSD61100,VIN=5V,VCC=5V。REFIN通过电阻分压从内部1V VREF得到0.6V(使用R1=R2=10kΩ),VOUT=REFIN=1.2V(采用非跟踪模式,直接连接REFIN到VREF分压)。MODE选择600kHz PWM模式,OCL=7.6A(模式电阻参考数据手册)。电感选用0.47μH(饱和电流>10A),输入电容22μF×2(陶瓷),输出电容4×22μF(陶瓷)+1×470μF SP电容以满足瞬态需求。COMP网络按数据手册稳定性计算(RC≈3.9kΩ,CC≈2.2nF,CP≈33pF)。
- 效率与热设计:在5V输入、1.2V/6A输出时,典型效率约85%~90%。功耗PD ≈ (1-η) × Pout = 0.12 × 7.2 = 0.864W。VQFN封装在85°C环境下的允许功耗 (125-85)/32 ≈ 1.25W,热裕量充足。PCB上需将散热焊盘焊接至大面积地平面,并通过过孔散热。
- 瞬态响应:电流模式COT架构提供快速响应,在负载阶跃(±5A)下,输出电压跌落可控制在±50mV以内。
- PGOOD 使用:PGOOD引脚通过100kΩ上拉至3.3V,在输出电压稳定在±16%以内时输出高电平,用于系统上电时序控制。
7. PCB 布局建议
- 输入电容就近放置:VIN和VCC引脚各需放置陶瓷电容,尽量靠近芯片,以抑制输入电压振铃。
- 功率回路最小化:VIN → 高侧MOSFET → 电感 → 输出电容 → PGND 的路径应短而宽,降低寄生电阻和电感。SW节点面积尽可能小,减少EMI。
- 反馈和补偿走线:FB(VOUT)和COMP引脚的分压电阻及补偿网络应靠近芯片,走线远离SW节点,避免噪声耦合。
- MODE和REFIN走线:模式设置电阻和REFIN分压电阻靠近相应引脚,走线短且远离噪声源。
- 地线分割:PGND(功率地)和GND(信号地)应单点连接,通常在散热焊盘处汇合。
- 散热焊盘:芯片底部Exposed Pad必须焊接至PCB地平面,并通过多个过孔连接至内层地和底层,以降低热阻。
8. 订购信息与技术支持
CXSD61100 采用 VQFN-20L 3.5×4mm 封装,无铅、RoHS 合规。嘉泰姆电子提供工程样品、量产芯片及全面的技术支持,包括评估板、参考设计和 FAE 现场支持。
图3. CXSD61100 引脚封装图(VQFN-20L 3.5×4mm)
引脚1,2,3,21(散热焊盘):PGND | 4,5:VIN | 6:GND | 7:VREF | 8:COMP | 9:REFIN | 10:VOUT | 11-15:SW | 16:BOOT | 17:EN | 18:MODE | 19:PGOOD | 20:VCC
技术邮件: ouamo18@jtm-ic.com | 技术热线: 13823140578

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