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CXDR7528C微处理器复位电路存储器电池备份电路上电复位电路供电失效检测系统电池寿命和充电电压监视CMOS技术开发的高精度低功耗小封装电压检测芯片
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CXDR7528C系列芯片是使用 CMOS 技术开发的高精度、低功耗、 小封装电压检测芯片。检测电压在小温度漂移的情况下保持 极高的精度。客户可选择 CMOS 输出或 Open Drain 输出

CXDR7528C微处理器复位电路存储器电池备份电路上电复位电路供电失效检测系统电池寿命和充电电压监视CMOS技术开发的高精度低功耗小封装电压检测芯片
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产品简介

目录

  1. 1.产品概述    2.产品特点     kRD嘉泰姆

  2. 3.应用范围    4.技术规格书下载(PDF文档)kRD嘉泰姆

  3. 5.产品封装    6.电路原理图  kRD嘉泰姆

     7.相关产品kRD嘉泰姆

产品概述                                             

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CXDR7528C 系列芯片是使用 CMOS 技术开发的高精度、低功耗、 小封装电压检测芯片。检测电压在小温度漂移的情况下保持 极高的精度。客户可选择 CMOS 输出或 Open Drain 输出。kRD嘉泰姆

产品特点

                                                                         返回TOP

 l 高精度:±2%kRD嘉泰姆

 l 低功耗:2.0μA(Vin=1.5V)kRD嘉泰姆

 l 检测电压范围:1.0V~6.0V,100mV 步进kRD嘉泰姆

 l 工作电压范围:0.7V~8.0VkRD嘉泰姆

 l 检测电压温度特性:±100ppm(typ.)kRD嘉泰姆

 l 输出配置:N-channel open drain 或 CMOSkRD嘉泰姆

应用范围                                             

 

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l 微处理器复位电路 kRD嘉泰姆

l 存储器电池备份电路 kRD嘉泰姆

l 上电复位电路 kRD嘉泰姆

l 供电失效检测kRD嘉泰姆

l 系统电池寿命和充电电压监视。 kRD嘉泰姆

l 窗比较器 kRD嘉泰姆

l 波形锐化电路kRD嘉泰姆

技术规格书(产品PDF)                      返回TOP 

需要详细的PDF规格书请扫一扫微信联系我们,还可以获得免费样品以及技术支持kRD嘉泰姆

 QQ截图20160419174301.jpgkRD嘉泰姆

产品封装图                                               

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blob.pngkRD嘉泰姆

电路原理图                                               

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相关芯片选择指南                                      

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产品名称kRD嘉泰姆

工作电压(V)kRD嘉泰姆

延迟kRD嘉泰姆

静态功耗(uA)kRD嘉泰姆

输出方式kRD嘉泰姆

封装形式kRD嘉泰姆

CXDR7525AkRD嘉泰姆

2.0-6.5kRD嘉泰姆

NkRD嘉泰姆

8kRD嘉泰姆

单节锂电池4段电量显示kRD嘉泰姆

SOT-23-6kRD嘉泰姆

CXDR7526kRD嘉泰姆

0.7-7.0kRD嘉泰姆

YkRD嘉泰姆

1.5kRD嘉泰姆

N-channel open drain   or CMOSkRD嘉泰姆

SOT-143kRD嘉泰姆

CXDR7527kRD嘉泰姆

0.7-6.0kRD嘉泰姆

YkRD嘉泰姆

1.5kRD嘉泰姆

N-channel open drain   or CMOSkRD嘉泰姆

SOT-23-3kRD嘉泰姆

CXDR7528FkRD嘉泰姆

0.7-7.0kRD嘉泰姆

YkRD嘉泰姆

2kRD嘉泰姆

N-channel open drain   or CMOSkRD嘉泰姆

SOT-23-3,SOT-89-3,TO-92kRD嘉泰姆

CXDR7528CkRD嘉泰姆

0.7-7.0kRD嘉泰姆

NkRD嘉泰姆

2kRD嘉泰姆

N-channel open drain   or CMOSkRD嘉泰姆

SOT-23-3kRD嘉泰姆

CXDR7528BkRD嘉泰姆

1.5-7.0kRD嘉泰姆

NkRD嘉泰姆

4kRD嘉泰姆

N-channel open drain   and CMOSkRD嘉泰姆

SOT-23-5,SOT-353kRD嘉泰姆

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